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एक ही मॉडल ओटीडीआर के परीक्षण में ऑप्टिकल फाइबर के क्षीणन गुणांक में थोड़ा अंतर क्यों है?

2025-07-31

एक ही मॉडल के OTDR का परीक्षण करते समय ऑप्टिकल फाइबर के क्षीणन गुणांक में थोड़ा अंतर क्यों होता है?


एक ही मॉडल के OTDR परीक्षण के दौरान फाइबर क्षीणन गुणांक में अंतर मुख्य रूप से विभिन्न कारकों के कारण होता है। सबसे पहले, EXFO OTDR परीक्षण के नाममात्र तरंग दैर्ध्य मान के लिए एक सकारात्मक और नकारात्मक सीमा होती है, जिसमें अधिकांश मॉडलों में ± 20nm का नाममात्र मान होता है, जैसे कि 1550nm।

 

तरंग दैर्ध्य विचलन परिणामों को थोड़ा प्रभावित कर सकता है। क्योंकि ऑप्टिकल फाइबर का क्षीणन गुणांक तरंग दैर्ध्य से निकटता से संबंधित है, ऑप्टिकल फाइबर की अवशोषण और प्रकीर्णन विशेषताएं विभिन्न तरंग दैर्ध्य पर भिन्न होती हैं, और तरंग दैर्ध्य विचलन मापा क्षीणन मान को बदल सकता है।


निम्नलिखित तालिका में दिखाया गया है कि जब प्रकाश स्रोत का तरंग दैर्ध्य 20nm बदलता है तो नाममात्र हानि और हानि में परिवर्तन होता है।

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विभिन्न परीक्षण पर्यावरण स्थितियाँ भी अंतर पैदा कर सकती हैं। तापमान और आर्द्रता जैसे पर्यावरणीय कारक ऑप्टिकल फाइबर के प्रदर्शन और OTDR के कार्यशील स्थिति को प्रभावित कर सकते हैं, जिससे क्षीणन गुणांक के मापन में हस्तक्षेप होता है। इसके अतिरिक्त, ऑप्टिकल फाइबर की गुणवत्ता और एकरूपता पूरी तरह से सुसंगत नहीं है, और स्थानीय छोटे दोष या पैरामीटर में उतार-चढ़ाव हो सकता है, जिसके परिणामस्वरूप विभिन्न स्थितियों में एक ही प्रकार के OTDR का परीक्षण करते समय अलग-अलग क्षीणन गुणांक प्राप्त हो सकते हैं। इसके अतिरिक्त, परिचालन कारक जैसे OTDR अंशांकन और परीक्षण पैरामीटर सेटिंग्स का अंतिम क्षीणन गुणांक परीक्षण परिणामों पर भी एक निश्चित प्रभाव पड़ सकता है।

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2025-07-31

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एक ही मॉडल के OTDR परीक्षण के दौरान फाइबर क्षीणन गुणांक में अंतर मुख्य रूप से विभिन्न कारकों के कारण होता है। सबसे पहले, EXFO OTDR परीक्षण के नाममात्र तरंग दैर्ध्य मान के लिए एक सकारात्मक और नकारात्मक सीमा होती है, जिसमें अधिकांश मॉडलों में ± 20nm का नाममात्र मान होता है, जैसे कि 1550nm।

 

तरंग दैर्ध्य विचलन परिणामों को थोड़ा प्रभावित कर सकता है। क्योंकि ऑप्टिकल फाइबर का क्षीणन गुणांक तरंग दैर्ध्य से निकटता से संबंधित है, ऑप्टिकल फाइबर की अवशोषण और प्रकीर्णन विशेषताएं विभिन्न तरंग दैर्ध्य पर भिन्न होती हैं, और तरंग दैर्ध्य विचलन मापा क्षीणन मान को बदल सकता है।


निम्नलिखित तालिका में दिखाया गया है कि जब प्रकाश स्रोत का तरंग दैर्ध्य 20nm बदलता है तो नाममात्र हानि और हानि में परिवर्तन होता है।

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